X射線熒光光譜儀的無標樣和定量分析方法如下：

　　一、X射線熒光光譜儀無標樣分析方法

　　對于以固體進樣為主的X射線熒光分析技術(shù)經過，要獲得一套高質(zhì)量的固體標準樣品有一定難度簡單化，限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。
 

　　而X射線熒光光譜無標樣分析技術(shù)是90年代推出的新技術(shù)，其目的是不用標準樣品也可以分析各種樣品系統性。它的基本思路是：由儀器制造商測量標準樣品勇探新路，儲存強度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中傳遞，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移長足發展。因此，無標樣分析不是不需要標樣穩步前行，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做結構不合理，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計數(shù)強度差異進行校正。其優(yōu)點是采用了制造商的標樣逐步改善、經(jīng)驗與知識意見征詢，包括測量條件，自動譜線識辨大大提高，背景扣除的必然要求，譜線重疊校正，基體校正等有很大提升空間。無標樣分析技術(shù)可以在沒有標準樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個元素運行好，應(yīng)用范圍較廣，但其適用性也帶來了分析準確度的局限性可能性更大。
 

　　二、X射線熒光光譜儀定量分析方法

　　X射線熒光光譜法是一種相對分析方法搖籃，光譜儀只提供X射線熒光的強度技術，要找到熒光強度與樣品濃度的關(guān)系，需要一套高質(zhì)量的標準樣品推動，根據(jù)元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關(guān)系進行擬合繪制工作曲線相對較高，以該工作曲線為基礎(chǔ)測試同類型樣品元素的組成和含量。
 

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