SPECTRO xSORT光譜儀可以在極短的時間內(nèi)達到非常低的檢測下限建設項目，因此在現(xiàn)場測試中可以快速提供實驗室等級的測試結(jié)果搶抓機遇。

斯派克熒光光譜儀有哪些特點緊迫性？

重量輕效果、精度高

從外形上看新格局，設(shè)備體積小一站式服務、重量輕廣度和深度。在使用上來說，設(shè)備分析精度高智能化、可靠性佳科技實力、一體化程度高，集多種應(yīng)用于一體建設，特別適用于高精度材料成分快速檢測在此基礎上。

操作簡便

儀器在Windows CE操作系統(tǒng)上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便前來體驗。

半定量 (定量) 程序

配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序自主研發。可對任何*未知的樣品進行‘解剖’分析更加廣闊。與其他同類儀器相比損耗，F(xiàn)P更為接近(符合)實際，在此程序中采用了數(shù)千種標(biāo)準(zhǔn)樣品非常完善，實測結(jié)果并予以固化性能穩定。

分析范圍廣全面革新、速度快

根據(jù)用戶需要進行擴展，以滿足粉末情況正常，礦石線上線下，土壤,液體,涂鍍層等不同樣品更多的分析測試要求，測量元素可達40種以上醒悟祿@示？稍诖髿庵鞋F(xiàn)場快速無損地（2秒顯示牌號和實驗室級的分析結(jié)果/額外增加5秒可分析Mg，Al也逐步提升，Si記得牢，P，S）分析檢測并鑒別出各種不銹鋼重要的作用、低合金鋼更多可能性、有色合金以及金屬等材質(zhì)中的常量和微量元素含量，檢出限可達ppm級足夠的實力。

工作效率高

SDD技術(shù)使分析所占用的X射線開啟時間顯著減少緊迫性，同樣的儀器使用條件下可以測試更多的樣品，使工作效率得到有效提升更適合。先進的Peltier電制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）計數(shù)器高效，配備全優(yōu)于傳統(tǒng)Si-PIN計數(shù)器的信號處理速度和能量分辨率，有效地防止計數(shù)溢出造成的漏計要素配置改革。

安全全方位、快速無損

不同的激發(fā)條件，對元素周期表中Mg – U 的所有元素均有理想的激發(fā)效果影響力範圍，操作時間減少大局，減少了X射線對操作人員造成傷害的可能性，是真正意義的安全邁出了重要的一步、快速無損現(xiàn)場檢測設(shè)備有序推進。復(fù)合濾光片 (多金屬復(fù)合材料) 設(shè)計，減少了由更換濾波片造成的分析時間的浪費（高縮短5倍時間）需求。

人機功效學(xué)原理

儀器采用分級密碼堅定不移，重要的數(shù)據(jù)得到保護。標(biāo)準(zhǔn)USB接口方便數(shù)據(jù)傳出真諦所在。人機功效學(xué)原理指導，一體化的ePC可以完成諸如多種操作競爭力，如：測試操作充分、儀器控制、自動識別集聚、背底扣減競爭力、譜峰重疊調整推進、堆砌峰/逃逸峰校正和定量計算等。

結(jié)果的準(zhǔn)確性

Interlock安全互鎖和硬體快門的設(shè)定機製性梗阻，如未檢測到測試樣品機製，快門互鎖裝置會于200毫秒內(nèi)自動關(guān)閉快門并同時切斷X射〖蓱?？扉T即為目前所有品牌中只有斯派克做到了的內(nèi)置的ICAL自校準(zhǔn)樣品探討、自動校準(zhǔn)儀器，快門能幫助自動修正偏差高效流通，無需外置自校準(zhǔn)標(biāo)樣調解製度，后確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。連鎖保護功能可以大程度保護操作人員的人身安全功能。

多種校正模式

儀器具有多種校正模式(數(shù)學(xué)模型)(方法)應用的因素之一，在定量分析中可充分應(yīng)用，以取得佳的分析結(jié)果預期。方法包括: 基本參數(shù)法敢於監督、盧卡斯經(jīng)驗系數(shù)法、質(zhì)量吸收系數(shù)法結構、基體匹配校正等等推進一步。