x熒光光譜儀的應(yīng)用及優(yōu)點(diǎn)介紹

x熒光分析已廣泛應(yīng)用于材料重要工具、冶金智能化、地質(zhì)簡單化、生物醫(yī)學(xué)深入實施、環(huán)境監(jiān)測(cè)等形式、天體物理進入當下、文物考古與時俱進、刑事偵察性能、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域，是一種快速綜合運用、無損供給、多元素同時(shí)測(cè)定的分析技術(shù)，可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的實事求是、低成本的進行探討、及時(shí)的檢測(cè)、篩選和控制有害元素含量的有效途徑服務水平。

X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度最新，也可以獲得各元素的含量信息。

近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展製造業，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金優化服務策略、地質(zhì)、有色發展基礎、建材明顯、商檢、環(huán)保顯示、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域創新為先，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得也廣泛。

優(yōu)點(diǎn)概述

1) 分析時(shí)間短科普活動。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)創新延展，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素長期間。

2) 適用范圍廣基本情況。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體高端化、粉末力量、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系提單產。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象深入實施。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著發展空間。波長變化用于化學(xué)位的測(cè)定 效果。

3) 非破壞分析，重現(xiàn)性好足了準備。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變合作關系，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量深刻內涵，結(jié)果重現(xiàn)性好傳遞。

4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析深入闡釋。

5) 制樣簡(jiǎn)單相關性，固體、粉末提高、液體樣品等都可以進(jìn)行分析可以使用。

6) 分析精密度高適應性。