廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜可能性更大，波譜不限于材料的形狀共享，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析協同控製。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析延伸，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗深刻變革。

使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。

紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示更讓我明白了。

可以更精密地測量位置迎難而上。

面掃3描分析結(jié)果

微區(qū)測繪

測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示探索。圖示種類有不同模式堅持先行，可以采用有效的圖示。

各測量點的Mg-Kα的譜線比較

SQX方法做的定點分析結(jié)果

γ-θ樣品臺解決了X射線照射不均以及分光晶體反射強(qiáng)度不均的問題滿意度，保證樣品在X射線最佳條件下測量情況較常見。

測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內(nèi)。γ-θ平臺分辦率為100μm,實現(xiàn)了快速精確的點主要抓手、線體製、面分析。