化學(xué)分析是測定單礦物的一種比較重要的分析方法真諦所在，但樣品需破碎技術先進、淘洗、磁選有望、人工鏡下挑選薄弱點、研磨、溶礦（酸溶或堿熔）方便、檢測等分析流程基礎上，效率極其低下。

銅礦物在自然界存在形式多樣應用領域，有原生帶次生富集帶和氧化帶等保持競爭優勢，共生礦物和伴生礦物眾多，各類礦物均存在類質(zhì)同象（例如黝銅礦和砷黝銅礦）或者鏡下光學(xué)特征相似（例如磁黃鐵礦和方黃銅礦）的現(xiàn)象發展機遇，傳統(tǒng)的巖礦鑒定方法利用偏光完成的事情、反光顯微鏡或?qū)嶓w顯微鏡等設(shè)備難以鑒別，對于此類礦物的鑒別需要借助化學(xué)分析方法或微區(qū)分析技術(shù)穩定。

微區(qū)分析技術(shù)（電子探針改造層面、同步輻射、全反射微區(qū)分析）已在地質(zhì)優勢與挑戰、環(huán)境經驗分享、考古和材料科學(xué)等領(lǐng)域獲得了應(yīng)用。在半導(dǎo)體材料方面趨勢，微探針和同步輻射技術(shù)為摻雜元素的行為研究提供 了新的方法：在考古方面應(yīng)用微區(qū)能量色散x射線熒光元索成像法測定陶瓷中重金屬元素有力扭轉；在地質(zhì)學(xué)方面上高質量，應(yīng)用x射線熒光光譜（XRF）微區(qū)分析技術(shù)分析隕石；應(yīng)用微束X射線熒光微區(qū)測定了鈾礦石廣度和深度；應(yīng)用微束微區(qū)X熒光探針分析儀檢測心礦石內(nèi)的礦物顆粒攻堅克難。

研究內(nèi)容既有定性描述（繪制待測組分測區(qū)分布圖），也有定量分析顯示。但所用分析儀器價格昂貴雙向互動，普及率不高，制樣復(fù)雜（電子探針設計能力、同步輻射）品牌，或者分辨率不高（微束X射線分析儀、全反射X射線光譜儀）更為一致，譜線重疊嚴(yán)重等問題難以滿足巖礦鑒定的實際需要等形式。

帶微區(qū)分析功能的波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）具有價格相對便宜、穩(wěn)定性好研究與應用，分析速度快飛躍、分辨率高等優(yōu)點，測區(qū)面積可根據(jù)需要鑒定礦物的大小進(jìn)行調(diào)整全面協議，實現(xiàn)原位分析重要部署。

可以應(yīng)用該技術(shù)測定薄膜里的元素分布情況以及鑒定鉛鋅礦石和鎢礦石。本文通過研究待鑒定礦物的測量條件（分析線工具、能量窗口）智慧與合力，測量方式（濾光片樣品自旋）和干擾校正模型（重疊干擾基體效應(yīng)），建立了銅礦石類質(zhì)同象物相的鑒定方法重要的角色，獲取了礦物的微區(qū)原位化學(xué)成分開放要求、含量及元素賦存狀態(tài)特征。該方法為銅礦物的鑒定工作提供了一種快速便捷的手段也逐步提升，記得牢，而且為礦產(chǎn)綜合利用工作提供了極有價值的信息。

1.實驗部分

1.1測量儀器 

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+

1.2樣品制備

將待鑒定的礦物標(biāo)本進(jìn)行切割（盡量選擇礦物富集的部位重要的作用，切下來的巖片如有孔洞或疏松需注膠）更多可能性，平面處理（粗磨、細(xì)磨和精磨）積極回應，拋光（選用三氧化二鉻拋光劑）重要性，制備成35 mmx35 mm的光片。

1.3標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析元素

銅礦物有自然銅多種場景、黃銅礦 多元化服務體系、輝銅礦、斑銅礦擴大公共數據、黝銅礦深度、砷黝銅礦帶動擴大、黑銅礦、赤銅礦開拓創新、車輪礦持續發展、磷銅礦、銅藍(lán)促進善治、透視石綠松石等礦物擴大。其中的主元素有銅、鐵發揮效力、硫新格局、砷、銻安全鏈、鉛顯示、鋁、硅真正做到、磷等科普活動，伴生元素有金、銀強化意識、鋅長期間、鈷、鎳的積極性、鉍綠色化發展、汞、硒使命責任、碲、鈣使用、鎂等合規意識。

1.4測量條件優(yōu)化

礦物標(biāo)本與普通地質(zhì)樣品有所不同，地質(zhì)樣品中的痕量元素在礦物標(biāo)本中可能是主元素有效性，分析線和PH的選擇一定要在時物標(biāo)本的掃描圖上選擇創新內容，盡管XRF的諧線簡單，重疊干擾少廣泛關註，但主元索的重疊干擾依然存在善於監督，如As Ka（2 =34.00°）與Pb Lα（2θ =33.93°）的干擾，在選擇分析譜線時盡可能規(guī)避這種受干擾嚴(yán)重的譜線就能壓製，選擇不受譜線重疊干擾或重疊干擾程度小的分析線Pb LB1（2 θ= 28.26°）更合理。 

需要注意的是，主元素的高次線干擾通過PHA的設(shè)定不一定能夠全部去除更優美，回歸校準(zhǔn)曲線時仍需考慮其干擾影響各方面。

1.5測量方式優(yōu)化

2θ角在11° ~ 18°區(qū)域內(nèi)防控，由于受到靶線（Rh）相干散射和非相干散射的影響，背景強(qiáng)度較大適應性。選擇Zr濾光片可顯著降低背景強(qiáng)度堅實基礎，減弱靶線的影響，從而提高Ag等元素的檢出率重要作用。

樣品旋轉(zhuǎn)對譜峰平滑度影響較大等地，掃描的譜峰為鋸齒狀（圖1），給伴生元素的甄別帶來困難尤為突出，因此選擇樣品不旋轉(zhuǎn)的測量方式物聯與互聯。通過試驗確定的檢測元素（主元素及主要伴生元素）、測量方式等測量條件見表1改造層面。

表1 分析元素X射線熒光光譜測量條件

注：PHA為脈沖高度分析器供給，準(zhǔn)直器選用S4

圖1 樣品旋轉(zhuǎn)與否測量的熒光譜圖比較 

2.X射線微區(qū)分析干擾校正及技術(shù)指標(biāo)

2.1譜線干擾及基體校正

分析軟件提供了基體校正和譜線重疊校正公式。其數(shù)學(xué)模型為:

式中：W_i---標(biāo)準(zhǔn)樣品中分析元索i的物薦值或未知樣品中分析元素i校正后的含量經驗分享；

W_j----共存元素j的含量或熒光強(qiáng)度解決方案；

K_i、C_i---常數(shù)有力扭轉；

I_i----分析元素i的強(qiáng)度作用；

B、C慢體驗、D----校準(zhǔn)曲線常數(shù)著力增加；

a_ij----共存元素j對分析元素i的吸收----增強(qiáng)校正系數(shù)；

β_ij----共存元素j對分析元素i的重疊校正系數(shù)科技實力。 

譜線重疊干擾有一次線請線重疊干擾和高次線譜線重疊干擾處理。

一次線譜線重疊干擾又分為同線系譜線重疊干擾（例如Fe Kβ對Co Ka的干擾，Ag Ka對Cd Ka的干擾）和不同線系譜線重疊干擾（例如PbMa對S Ka的干擾）在此基礎上。一次線重疊干擾無法避免助力各行，對測定結(jié)果的影響較大，只能采用譜線重疊干擾校正予以扣除自主研發。

高次線譜線重疊干擾確定性，例如Pb Lβ對Fe Ka的干擾。Cu Ka對P Ka的干擾一般通過PHA窗口的調(diào)節(jié)加以消除損耗。但當(dāng)干擾元素的含量很高時講故事，高次線重疊干擾存在的可能性仍然較大，在進(jìn)行譜線重疊校正時也必須認(rèn)真加以考慮性能穩定。

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)和增強(qiáng)效應(yīng)全面革新，由于經(jīng)驗系數(shù)法沒有考慮強(qiáng)度與含量間的物理模型，該校正法對各種類型的分析對象都有很好的適應(yīng)性，不僅可以校正元素間的吸收一增強(qiáng)效應(yīng)線上線下，還可以對礦物效應(yīng)進(jìn)行相應(yīng)的修正發揮重要作用。在回歸校準(zhǔn)曲線校準(zhǔn)系數(shù)時，同時對基體效應(yīng)數據顯示、礦物效應(yīng)和諧線重疊校正系數(shù)進(jìn)行計算高質量。

2.2方法精密度 

按表1的測量條件對某黃銅礦標(biāo)本連續(xù)測定12次,元素S、Fe 記得牢、Cu的測定平均值分別為33.98%註入了新的力量、30.16%、34.47%更多可能性，相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD）分別為0.7%去創新、0.9%、0.2%緊迫性，滿足了地質(zhì)礦產(chǎn)實驗室測試質(zhì)量管理規(guī)范（DZ/T 0130.9----2006）的監(jiān)控要求結構，表明測量的精密度較好。

2.3方法準(zhǔn)確度 

按表1的測量條件對某黃銅礦標(biāo)本連續(xù)測定12次聽得懂，元素S應用優勢、Fe、Cu的測定平均值分別為33.98%全方位、30.16%高效節能、34.47%，相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD）分別為驗證本法的可靠性大局，對銅礦物的原生帶新創新即將到來、次生富集帶、氧化帶3件標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行單次測定有序推進。標(biāo)準(zhǔn)樣品中各待測元素的測量結(jié)果與推薦值之間的相對差均小于6%（表2）設施，說明方法的準(zhǔn)確度較高，可以滿足實際樣品的檢測需求道路。

表2 標(biāo)準(zhǔn)樣品測定結(jié)果

3. X射線熒光光譜微區(qū)分析技術(shù)在銅礦物鑒定中的應(yīng)用

3.1磁黃鐵礦與方黃銅礦的鑒定 

某礦物標(biāo)本A目標(biāo)區(qū)（圖2銅分布分析圖黑色部分）采用傳統(tǒng)巖礦鑒定方法給出的結(jié)論是磁黃鐵礦或方黃銅礦（光學(xué)顯微鏡下光學(xué)特征相似）規模設備，不能確定是哪一種礦物。利用本法的定性分析模型掃描礦物標(biāo)本,結(jié)果顯示Cu指導、Fe、S的譜峰強(qiáng)度異常（圖2）充分，說明標(biāo)本中確實存在銅礦物或鐵礦物進一步完善。

元素分布分析（圖2）顯示，目標(biāo)區(qū)內(nèi)銅黃色部分（圖2銅分布分析圖黑色部分）的Fe競爭力、S的異常分布高度一致調整推進，Cu 的異常分布在右下角，表明目標(biāo)區(qū)礦物是磁黃鐵礦而非方黃銅礦。 

圖2 銅礦物標(biāo)本A元素的分布分析二維圖像和定性掃描圖譜

3.2黝銅礦與含銀砷黝銅礦的鑒定

另一黝銅礦（Cu12Sb4S13）標(biāo)本B機製，由于其化學(xué)組成中類質(zhì)同象替代現(xiàn)象非常廣泛,除了Sb與As形成類質(zhì)同象全過程，Ag 、Zn 探討、Fe等還可有限替代Cu不負眾望，它們在光學(xué)顯微鏡下的光學(xué)特征極其相似，傳統(tǒng)巖礦鑒定方法很難鑒別區(qū)分出黝銅礦調解製度、砷黝銅礦精準調控、含銀黝銅礦等，僅能籠統(tǒng)地給出黝銅礦的結(jié)論應用的因素之一。

本法的標(biāo)本定性掃描圖（圖3）顯示解決，除S、Cu開展試點、Sb的譜峰強(qiáng)度異常外攜手共進，Pb、Zn推進一步、Cd經過、Ag也有異常譜峰出現(xiàn)，說明標(biāo)本中不僅存在黝銅礦實際需求，還存在鉛礦物和鋅礦物解決方案。

元素分布分析圖（圖3）顯示，標(biāo)本目標(biāo)區(qū)內(nèi)鋼灰色部分（元素分布分析圖顯示部分）的Cu善謀新篇、Sb增產、Ag、Fe方法、S分布的異常區(qū)域高度-致（S 最高含量分布與其他元索不一致是由于閃鋅礦存在造成的行動力，因為閃鋅礦的硫含量遠(yuǎn)高于黝銅礦的硫含量）。表明黝銅礦中含有Ag切實把製度、Fe保供。微區(qū)定量分析（圖3銻分布分析1處）各元索的含量結(jié)果（%）)為：Cu 38.24，Sb21. 48.進行部署，S24.12責任，Zn6.31，As5.15保護好，Ag1.95組建，F(xiàn)e1.46； 

物質(zhì)的量為：（Cu+Fe+Zn） 0.725特點，（Sb+As）0. 245深刻變革，S 0.75結論；配位數(shù)為：（Cu+Fe+Zn）2.95，（Sb+As）1質生產力，S 3.06適應性強。測量結(jié)果與黝銅礦（Cu12Sb4S13）成分理論值（Cu45.77% ，Sb 29.22% 先進的解決方案，S 25.00%）比較接近拓展，其中8%左右的Cu被Zn、Fe替助力各行，5%左右的Sb被As替代姿勢，該礦物定名為含銀砷黝銅礦開展。

圖3二維圖像左上角檢測點（硫分布分析圖3b處）進(jìn)行微區(qū)定量檢測進一步，測定結(jié)果為：Zn 65. 22% ，S 31. 39% 參與水平；物質(zhì)的量為：Zn 1. 00發展，S 0.98 保持穩定；配位數(shù)為：Zn 1.02，S 1面向。測定結(jié)果與閃鋅礦（ZnS）成分理論值（(Zn 67. 10%支撐作用，S32. 90%） 非常接近,定名為閃鋅礦。同時解釋了譜線圖上Cd異常的原因（Cd為閃鋅礦伴生元素）建設項目。 

圖3 銅礦物標(biāo)本B元素的分布分析二維圖像和定性掃描圖譜

4.結(jié)語 

通過研究X射線熒光光譜微區(qū)分析的測量方式最為突出、譜線重疊干擾、基體效應(yīng)和礦物效應(yīng)等測量條件相結合，建立了以X射線熒光光譜微區(qū)分析為主的銅礦物鑒定方法高效化，解決了互為類質(zhì)同象礦物（銀砷黝銅礦與黝銅礦）以及其他光學(xué)特征相似的礦物（磁黃鐵礦與方黃銅礦）在光學(xué)顯微鏡下難以鑒定的難題。

該方法在礦產(chǎn)勘查為產業發展、礦床地質(zhì)研究範圍和領域、礦物工藝學(xué)研究、礦產(chǎn)綜合利用和新礦物的綜合研究等方面具有廣闊的應(yīng)用前景各項要求。

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