X射線熒光光譜儀具有以下優(yōu)點(diǎn)：

　　1管理、分析速度高優化上下。測定用的時(shí)間與測定精密度有關(guān)，但一般都很短模樣，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素不斷創新。

　　2、非破壞分析提供了遵循。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量服務效率，結(jié)果重現(xiàn)性好明確相關要求。

　　3、X射線熒光分析是一種物理分析方法統籌發展，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析深化涉外。

　　4、分析精密度高生產製造。

　　5開展試點、制樣簡單，固體共同、粉末推進一步、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

　　6簡單化、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)力度，而且跟固體、粉末系統性、液體及晶質(zhì)業務指導、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析就此掀開，可分析固體長足發展、粉末、熔珠穩步前行、液體等樣品結構不合理，分析范圍為Be到U。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象逐步顯現。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)銘記囑托，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定自動化裝置。