X射線熒光光譜儀是利用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子也逐步提升，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法說服力。按激發(fā)強化意識、色散和探測(cè)方法的不同資源配置，分為X射線光譜法（波長(zhǎng)色散）和X射線能譜法（能量色散）實力增強。具有重現(xiàn)性好自動化，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)異常狀況。能分析F(9)～U(92)之間所有元素研究。樣品可以是固體高效、粉末、熔融片提高，液體等機構，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬交流、水泥基礎、陶瓷、石油還不大、玻璃等行業(yè)樣品高產。
X 射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面發揮作用，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性良好。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化銘記囑托，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等引領。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污示範。
一應用前景、X射線熒光光譜儀使用中由樣品制備和樣品自身引起的誤差：
（1） 樣品的均勻性運行好。
∈状?。?） 樣品的表面效應(yīng)。
∵M一步意見。?） 粉末樣品的粒度和處理方法增幅最大。
（4） 樣品中存在的譜線干擾的必然要求。
⊙芯砍晒?。?） 樣品本身的共存元素影響即基體效應(yīng)。
⊥晟坪?。?） 樣品的性質(zhì)。
》e極參與。?） 標(biāo)準(zhǔn)樣品的化學(xué)值的準(zhǔn)確性問題分析。
二、引起樣品誤差的原因：
〗涣餮杏?。?）樣品物理狀態(tài)不同更加完善，樣品的顆粒度、密度建設應用、光潔度不一樣支撐作用；樣品的沾污日漸深入、吸潮，液體樣品的受熱膨脹同時，揮發(fā)互動式宣講、起泡、結(jié)晶及沉淀等模式。
∽詣踊?。?）樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等高品質。
〔徽鄄豢?。?）樣品的組成不一致 引起吸收、增強(qiáng)效應(yīng)的差異造成的誤差
≠Y源優勢。?）被測(cè)元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變 樣品氧化高效利用，引起元素百分組成的改變；輕元素化學(xué)價(jià)態(tài)不同時(shí)估算，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差講實踐。
（5）制樣操作 在制樣過(guò)程中的稱量造成的誤差奮戰不懈，稀釋比不一致市場開拓，樣品熔融不*，樣品粉碎混合不均勻取得顯著成效，用于合成校準(zhǔn)或基準(zhǔn)試劑的純度不夠等新模式。
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