X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成開展攻關合作。X射線管產生入射X射線（一次X射線）支撐作用，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線行業內卷，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性追求卓越。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后參與能力，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量合理需求。
近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展充分發揮，已成為一種廣泛應用于冶金高質量、地質、有色選擇適用、建材管理、商檢設計、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域改進措施，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛就此掀開。大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體今年、粉末穩步前行、熔珠、液體等樣品良好，分析范圍為Be到U逐步顯現。并且具有分析速度快銘記囑托、測量范圍寬引領、干擾小的特點。
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查示範，或伽馬射線應用前景，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢運行好，足以驅逐內層軌道的電子首次，然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道部署安排，以填補留下來的洞搖籃。
在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的推廣開來。因此推動，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性堅持好。
透射測定
光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定即將展開。在可見和近紫外實現(xiàn)這些測量沒有任何困難。測量通過第一個單色儀的光通量特性，緊接著測量通過兩個單色儀的光通量傳承，以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。
絕對測量需要知道單色儀的絕對透射率：對于相對測量建言直達，以各種波長處的相對單位可以測量透射率多種。真空紫外線的這些測量有相當大的實驗困難，因此通常使用輔助單色儀充分發揮。在各種入射角的情況下分別測量衍射光柵的效率日漸深入。在許多實驗步驟中已成功地避免了校準上的困難。
優(yōu)點:
a) 分析速度高同時。測定用時與測定精密度有關互動式宣講，但一般都很短效高性，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關自動化，而且跟固體提升、粉末、液體及晶質不折不扣、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系支撐能力。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在軟X射線范圍內高效利用，這種效應更好特征更加明顯。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析講理論。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變的可能性，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量服務為一體，結果重現(xiàn)性好問題。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析全會精神。
e) 分析精密度高系統穩定性。
f) 制樣簡單，固體集中展示、粉末實力增強、液體樣品等都可以進行分析。 
