X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法服務效率，采用探測(cè)器檢測(cè)特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析重要意義。X射線熒光光譜分析具有快速統籌發展、多元素分析、制樣簡(jiǎn)單體系、重現(xiàn)性好生產製造、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對(duì)環(huán)境無(wú)污染等特點(diǎn)攜手共進，被廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域的樣品分析共同。硫化銅礦石作為國(guó)家戰(zhàn)略礦石之一，對(duì)其快速準(zhǔn)確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義大部分。

目前強大的功能，礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長(zhǎng)解決方案，操作繁瑣優勢，不適合日常快速分析的要求。開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法便利性，實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品方法，在600℃下預(yù)氧化20min，使低價(jià)態(tài)的硫轉(zhuǎn)變?yōu)榱蛩猁}提供有力支撐，不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕切實把製度，而且可以更好的測(cè)定以Cu和S為主的主量元素的含量。該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領(lǐng)域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序自行開發，有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值進行部署。隨著分析技術(shù)由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展，地學(xué)研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展應用情況，巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領(lǐng)域保護好。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

目前實(shí)驗(yàn)室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術(shù)包括電子探針、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等表現。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術(shù)作為一種基于普通X射線熒光的無(wú)損分析技術(shù)特點，是X射線光譜學(xué)領(lǐng)域的重要分支，可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析可能性更大，成為獲取樣品微區(qū)結(jié)構(gòu)元素空間線掃描部署安排、面掃描分布及時(shí)序性信息的有力工具。使用了臺(tái)式能量色散X射線熒光儀技術，對(duì)氧化物組合標(biāo)樣和礦物光片點(diǎn)掃描推廣開來，對(duì)31個(gè)礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進(jìn)行面掃描，5個(gè)金屬薄膜片點(diǎn)掃描技術研究。當(dāng)樣品與聚焦點(diǎn)距離變化在-20μm～20 μm時(shí)重要的，激發(fā)出的Fe開展研究、Cu姿勢、Zn、S的強(qiáng)度值大首要任務。

X射線熒光光譜分析測(cè)定金屬膜層的厚度綠色化，其測(cè)量值與實(shí)際值偏差不大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像發展，在玻璃基底上獲取的指紋紋理更清晰保持穩定。微區(qū)X射線熒光光譜無(wú)損分析可得到類似切割板的多元素分布圖，是分析元素分布規(guī)律的一種較快的方法面向，能快速測(cè)出金屬膜層的厚度支撐作用，高效率提取指紋。

通過蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦區(qū)帶典型礦山地區(qū)1:50000地質(zhì)調(diào)查建設項目，采集云龍縣的山坡最為突出、林地、草地等的土壤樣品400多件，用波長(zhǎng)色散-能量色散復(fù)合型X射線熒光光譜儀測(cè)量土壤重金屬含量高效化。得到土壤中重金屬元素的平均值製高點項目、中位值等，發(fā)現(xiàn)Zn和Pb元素含量的大值點(diǎn)在同一位置點(diǎn)範圍和領域，在河庫(kù)旁干涸處草地有所增加。Cu、Pb更高要求、Zn越來越重要的位置、As、Sb共同學習、Cd元素含量大值的采樣點(diǎn)均在水流附近結構重塑，其中Cd元素的大值點(diǎn)位于沘江附近，Cu措施、Pb大大縮短、Zn、As緊密相關、Sb更默契了、Cd等元素可能通過水流遷移。通過研究采礦區(qū)不同類型土壤表層中重元素的含量和分布特征培訓，為調(diào)查礦區(qū)及周邊水文地質(zhì)條件不合理波動、礦山開采帶來(lái)的主要環(huán)境地質(zhì)問題提供依據(jù)。