化學(xué)分析是測定單礦物的一種比較重要的分析方法行業內卷，但樣品需破碎追求卓越、淘洗逐漸完善、磁選、人工鏡下挑選合理需求、研磨是目前主流、溶礦（酸溶或堿熔）、檢測等分析流程高質量，效率極其低下鍛造。

銅礦物在自然界存在形式多樣，有原生帶次生富集帶和氧化帶等持續創新，共生礦物和伴生礦物眾多，各類礦物均存在類質(zhì)同象（例如黝銅礦和砷黝銅礦）或者鏡下光學(xué)特征相似（例如磁黃鐵礦和方黃銅礦）的現(xiàn)象空白區，傳統(tǒng)的巖礦鑒定方法利用偏光協調機製、反光顯微鏡或?qū)嶓w顯微鏡等設(shè)備難以鑒別，對于此類礦物的鑒別需要借助化學(xué)分析方法或微區(qū)分析技術(shù)形勢。

微區(qū)分析技術(shù)（電子探針實踐者、同步輻射、全反射微區(qū)分析）已在地質(zhì)數據、環(huán)境、考古和材料科學(xué)等領(lǐng)域獲得了應(yīng)用。在半導(dǎo)體材料方面激發創作，微探針和同步輻射技術(shù)為摻雜元素的行為研究提供 了新的方法：在考古方面應(yīng)用微區(qū)能量色散x射線熒光元索成像法測定陶瓷中重金屬元素標準；在地質(zhì)學(xué)方面培養，應(yīng)用x射線熒光光譜（XRF）微區(qū)分析技術(shù)分析隕石應用的選擇；應(yīng)用微束X射線熒光微區(qū)測定了鈾礦石自然條件；應(yīng)用微束微區(qū)X熒光探針分析儀檢測心礦石內(nèi)的礦物顆粒互動互補。

研究內(nèi)容既有定性描述（繪制待測組分測區(qū)分布圖），也有定量分析。但所用分析儀器價格昂貴方便，普及率不高，制樣復(fù)雜（電子探針、同步輻射）服務體系，或者分辨率不高（微束X射線分析儀、全反射X射線光譜儀），譜線重疊嚴(yán)重等問題難以滿足巖礦鑒定的實際需要發展需要。

帶微區(qū)分析功能的波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）具有價格相對便宜效率和安、穩(wěn)定性好更為一致，分析速度快影響、分辨率高等優(yōu)點發力，測區(qū)面積可根據(jù)需要鑒定礦物的大小進(jìn)行調(diào)整薄弱點，實現(xiàn)原位分析。

可以應(yīng)用該技術(shù)測定薄膜里的元素分布情況以及鑒定鉛鋅礦石和鎢礦石規劃。本文通過研究待鑒定礦物的測量條件（分析線性能、能量窗口）的方法，測量方式（濾光片樣品自旋）和干擾校正模型（重疊干擾基體效應(yīng)），建立了銅礦石類質(zhì)同象物相的鑒定方法重要作用，獲取了礦物的微區(qū)原位化學(xué)成分進展情況、含量及元素賦存狀態(tài)特征。該方法為銅礦物的鑒定工作提供了一種快速便捷的手段，研究進展，而且為礦產(chǎn)綜合利用工作提供了極有價值的信息。

1.實驗部分

1.1測量儀器 

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+

1.2樣品制備

將待鑒定的礦物標(biāo)本進(jìn)行切割（盡量選擇礦物富集的部位，切下來的巖片如有孔洞或疏松需注膠），平面處理（粗磨、細(xì)磨和精磨）完成的事情，拋光（選用三氧化二鉻拋光劑）經驗分享，制備成35 mmx35 mm的光片廣度和深度。

1.3標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析元素

銅礦物有自然銅、黃銅礦 、輝銅礦、斑銅礦自動化方案、黝銅礦醒悟、砷黝銅礦也逐步提升、黑銅礦特點、赤銅礦多種場景、車輪礦、磷銅礦核心技術體系、銅藍(lán)、透視石綠松石等礦物持續發展。其中的主元素有銅必然趨勢、鐵、硫創造性、砷發展的關鍵、銻、鉛規模設備、鋁真諦所在、硅、磷等競爭力，伴生元素有金充分、銀、鋅集聚、鈷競爭力、鎳、鉍狀況、汞機製性梗阻、硒建強保護、碲、鈣生產效率、鎂等使命責任。

1.4測量條件優(yōu)化

礦物標(biāo)本與普通地質(zhì)樣品有所不同，地質(zhì)樣品中的痕量元素在礦物標(biāo)本中可能是主元素使用，分析線和PH的選擇一定要在時物標(biāo)本的掃描圖上選擇合規意識，盡管XRF的諧線簡單，重疊干擾少有效性，但主元索的重疊干擾依然存在創新內容，如As Ka（2 =34.00°）與Pb Lα（2θ =33.93°）的干擾，在選擇分析譜線時盡可能規(guī)避這種受干擾嚴(yán)重的譜線廣泛關註，選擇不受譜線重疊干擾或重疊干擾程度小的分析線Pb LB1（2 θ= 28.26°）善於監督。 

需要注意的是，主元素的高次線干擾通過PHA的設(shè)定不一定能夠全部去除就能壓製，回歸校準(zhǔn)曲線時仍需考慮其干擾影響更合理。

1.5測量方式優(yōu)化

2θ角在11° ~ 18°區(qū)域內(nèi)，由于受到靶線（Rh）相干散射和非相干散射的影響更優美，背景強(qiáng)度較大各方面。選擇Zr濾光片可顯著降低背景強(qiáng)度，減弱靶線的影響成效與經驗，從而提高Ag等元素的檢出率善謀新篇。

樣品旋轉(zhuǎn)對譜峰平滑度影響較大，掃描的譜峰為鋸齒狀（圖1）便利性，給伴生元素的甄別帶來困難方法，因此選擇樣品不旋轉(zhuǎn)的測量方式。通過試驗確定的檢測元素（主元素及主要伴生元素）提供有力支撐、測量方式等測量條件見表1切實把製度。

表1 分析元素X射線熒光光譜測量條件

注：PHA為脈沖高度分析器，準(zhǔn)直器選用S4

圖1 樣品旋轉(zhuǎn)與否測量的熒光譜圖比較 

2.X射線微區(qū)分析干擾校正及技術(shù)指標(biāo)

2.1譜線干擾及基體校正

分析軟件提供了基體校正和譜線重疊校正公式最深厚的底氣。其數(shù)學(xué)模型為:

式中：Wi---標(biāo)準(zhǔn)樣品中分析元索i的物薦值或未知樣品中分析元素i校正后的含量協同控製；

Wj----共存元素j的含量或熒光強(qiáng)度振奮起來；

Ki品質、Ci---常數(shù)；

Ii----分析元素i的強(qiáng)度深入各系統；

B解決問題、C、D----校準(zhǔn)曲線常數(shù)作用；

aij----共存元素j對分析元素i的吸收----增強(qiáng)校正系數(shù)相互配合；

βij----共存元素j對分析元素i的重疊校正系數(shù)慢體驗。 

譜線重疊干擾有一次線請線重疊干擾和高次線譜線重疊干擾。

一次線譜線重疊干擾又分為同線系譜線重疊干擾（例如Fe Kβ對Co Ka的干擾智能化，Ag Ka對Cd Ka的干擾）和不同線系譜線重疊干擾（例如PbMa對S Ka的干擾）科技實力。一次線重疊干擾無法避免，對測定結(jié)果的影響較大建設，只能采用譜線重疊干擾校正予以扣除在此基礎上。

高次線譜線重疊干擾，例如Pb Lβ對Fe Ka的干擾前來體驗。Cu Ka對P Ka的干擾一般通過PHA窗口的調(diào)節(jié)加以消除自主研發。但當(dāng)干擾元素的含量很高時，高次線重疊干擾存在的可能性仍然較大更加廣闊，在進(jìn)行譜線重疊校正時也必須認(rèn)真加以考慮損耗。

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)和增強(qiáng)效應(yīng)，由于經(jīng)驗系數(shù)法沒有考慮強(qiáng)度與含量間的物理模型非常完善，該校正法對各種類型的分析對象都有很好的適應(yīng)性性能穩定，不僅可以校正元素間的吸收一增強(qiáng)效應(yīng)，還可以對礦物效應(yīng)進(jìn)行相應(yīng)的修正作用。在回歸校準(zhǔn)曲線校準(zhǔn)系數(shù)時工藝技術，同時對基體效應(yīng)、礦物效應(yīng)和諧線重疊校正系數(shù)進(jìn)行計算規模。

2.2方法精密度 

按表1的測量條件對某黃銅礦標(biāo)本連續(xù)測定12次,元素S近年來、Fe 、Cu的測定平均值分別為33.98%發展目標奮鬥、30.16%技術先進、34.47%，相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD）分別為0.7%延伸、0.9%認為、0.2%，滿足了地質(zhì)礦產(chǎn)實驗室測試質(zhì)量管理規(guī)范（DZ/T 0130.9----2006）的監(jiān)控要求新趨勢，表明測量的精密度較好反應能力。

2.3方法準(zhǔn)確度 

按表1的測量條件對某黃銅礦標(biāo)本連續(xù)測定12次，元素S學習、Fe結構重塑、Cu的測定平均值分別為33.98%、30.16%應用優勢、34.47%高質量發展，相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD）分別為驗證本法的可靠性，對銅礦物的原生帶高效節能、次生富集帶影響力範圍、氧化帶3件標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行單次測定大局。標(biāo)準(zhǔn)樣品中各待測元素的測量結(jié)果與推薦值之間的相對差均小于6%（表2），說明方法的準(zhǔn)確度較高邁出了重要的一步，可以滿足實際樣品的檢測需求有序推進。

3. X射線熒光光譜微區(qū)分析技術(shù)在銅礦物鑒定中的應(yīng)用

3.1磁黃鐵礦與方黃銅礦的鑒定 

某礦物標(biāo)本A目標(biāo)區(qū)（圖2銅分布分析圖黑色部分）采用傳統(tǒng)巖礦鑒定方法給出的結(jié)論是磁黃鐵礦或方黃銅礦（光學(xué)顯微鏡下光學(xué)特征相似），不能確定是哪一種礦物需求。利用本法的定性分析模型掃描礦物標(biāo)本,結(jié)果顯示Cu道路、Fe、S的譜峰強(qiáng)度異常（圖2）真諦所在，說明標(biāo)本中確實存在銅礦物或鐵礦物指導。

元素分布分析（圖2）顯示，目標(biāo)區(qū)內(nèi)銅黃色部分（圖2銅分布分析圖黑色部分）的Fe充分、S的異常分布高度一致進一步完善，Cu 的異常分布在右下角，表明目標(biāo)區(qū)礦物是磁黃鐵礦而非方黃銅礦關註度。 

圖2 銅礦物標(biāo)本A元素的分布分析二維圖像和定性掃描圖譜

3.2黝銅礦與含銀砷黝銅礦的鑒定

另一黝銅礦（Cu12Sb4S13）標(biāo)本B橫向協同，由于其化學(xué)組成中類質(zhì)同象替代現(xiàn)象非常廣泛,除了Sb與As形成*類質(zhì)同象，Ag 敢於挑戰、Zn 不斷創新、Fe等還可有限替代Cu，它們在光學(xué)顯微鏡下的光學(xué)特征極其相似提供了遵循，傳統(tǒng)巖礦鑒定方法很難鑒別區(qū)分出黝銅礦參與水平、砷黝銅礦、含銀黝銅礦等服務效率，僅能籠統(tǒng)地給出黝銅礦的結(jié)論明確相關要求。

本法的標(biāo)本定性掃描圖（圖3）顯示，除S統籌發展、Cu深化涉外、Sb的譜峰強(qiáng)度異常外，Pb生產製造、Zn開展試點、Cd、Ag也有異常譜峰出現(xiàn)共同，說明標(biāo)本中不僅存在黝銅礦推進一步，還存在鉛礦物和鋅礦物。

元素分布分析圖（圖3）顯示強大的功能，標(biāo)本目標(biāo)區(qū)內(nèi)鋼灰色部分（元素分布分析圖顯示部分）的Cu實際需求、Sb解決方案、Ag優勢、Fe善謀新篇、S分布的異常區(qū)域高度-致（S 至高含量分布與其他元索不一致是由于閃鋅礦存在造成的，因為閃鋅礦的硫含量遠(yuǎn)高于黝銅礦的硫含量）便利性。表明黝銅礦中含有Ag方法、Fe。微區(qū)定量分析（圖3銻分布分析1處）各元索的含量結(jié)果（%）)為：Cu 38.24提供有力支撐，Sb21. 48.切實把製度，S24.12，Zn6.31自行開發，As5.15進行部署，Ag1.95，F(xiàn)e1.46自動化裝置； 

物質(zhì)的量為：（Cu+Fe+Zn） 0.725示範，（Sb+As）0. 245，S 0.75有很大提升空間；配位數(shù)為：（Cu+Fe+Zn）2.95運行好，（Sb+As）1，S 3.06可能性更大。測量結(jié)果與黝銅礦（Cu12Sb4S13）成分理論值（Cu45.77% 部署安排，Sb 29.22% ，S 25.00%）比較接近技術，其中8%左右的Cu被Zn推廣開來、Fe替，5%左右的Sb被As替代相對較高，該礦物定名為含銀砷黝銅礦重要的。

圖3二維圖像左上角檢測點（硫分布分析圖3b處）進(jìn)行微區(qū)定量檢測，測定結(jié)果為：Zn 65. 22% 姿勢，S 31. 39% 相互融合；物質(zhì)的量為：Zn 1. 00，S 0.98 綠色化；配位數(shù)為：Zn 1.02不同需求，S 1。測定結(jié)果與閃鋅礦（ZnS）成分理論值（(Zn 67. 10%保持穩定，S32. 90%） 非常接近,定名為閃鋅礦總之。同時解釋了譜線圖上Cd異常的原因（Cd為閃鋅礦伴生元素）。 

圖3 銅礦物標(biāo)本B元素的分布分析二維圖像和定性掃描圖譜

4.結(jié)語 

通過研究X射線熒光光譜微區(qū)分析的測量方式支撐作用、譜線重疊干擾研學體驗、基體效應(yīng)和礦物效應(yīng)等測量條件，建立了以X射線熒光光譜微區(qū)分析為主的銅礦物鑒定方法最為突出，解決了互為類質(zhì)同象礦物（銀砷黝銅礦與黝銅礦）以及其他光學(xué)特征相似的礦物（磁黃鐵礦與方黃銅礦）在光學(xué)顯微鏡下難以鑒定的難題落實落細。

該方法在礦產(chǎn)勘查相結合、礦床地質(zhì)研究、礦物工藝學(xué)研究製高點項目、礦產(chǎn)綜合利用和新礦物的綜合研究等方面具有廣闊的應(yīng)用前景為產業發展。

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